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Canagrosa incorpora la microscopÍa SEM-EDS para impulsar aplicaciones de alta precisión

Esta tecnología combinada posiciona a la compañía a la vanguardia europea como laboratorio de referencia en MRO para el sector aeroespacial

Canagrosa ha dado un paso significativo al adquirir un microscopio de barrido electrónico (Scanning Electron Microscope, SEM) equipado con un sistema de espectroscopía de rayos x por dispersión de energía (EDS). Esta tecnología combinada va a permitir mejorar la calidad y precisión de diversas aplicaciones clave que se desarrollan en el día a día.

Por un lado, impulsará el análisis morfológico de cualquier tipo de recubrimiento por tratamientos superficiales. Este análisis es de aplicación tanto en certificaciones de procesos y/o ensayos de este tipo, como en analítica de las capas anódicas.

Por otra parte, mejorará el estudio de la composición química de partículas, principalmente para el análisis de partículas metálicas que se detectan en distintos sistemas de una aeronave, como por ejemplo “chip detectors”. Información que resulta clave, e incluso crítica, para garantizar la seguridad en vuelo.

Y también influirá en la aplicación estratégica, especialmente en el sector aeronáutico. Un gran número de aerolíneas hacen uso de la microscopia SEM-EDS ya que, con los métodos adecuados de preparación de muestras y personal técnico experto, proporciona información sobre controles de calidad. De esta forma, Canagrosa profundizará en la investigación y comprensión de los materiales.

En definitiva, la microscopía de barrido electrónico (SEM-EDS), junto a la espectroscopía IR-FTIR, contribuyen a posicionar a Canagrosa a la vanguardia tecnológica europea como laboratorio de referencia en MRO para el sector aeroespacial, lo que unido al expertise del equipo y la excelencia en la respuesta al cliente, favorece la confianza depositada en la compañía de importantes líneas aéreas de todo el mundo.

Microscopía SEM-EDS

La microscopía SEM emplea un haz de electrones a diferencia de la microscopía óptica, que incide en el material a observar con un haz de luz (fotones). De esta forma, permite observar cualquier material, sea metálico u orgánico, que reacciona al “bombardeo”. Además, haciendo uso del detector de energía difusa, se pueden realizar microanálisis de rayos X para determinar la composición química del material.

Esta tecnología microscópica avanzada dispone de una gran profundidad de campo y produce imágenes de alta resolución (aproximadamente 20 nanómetros), permitiendo un acercamiento notable al mundo microscópico.

La tecnología SEM tiene, además, la ventaja de poder llegar a niveles de detalle de hasta X20.000 y obtener composiciones de muchísimo nivel de detalle y profundidad.

Por otra parte, la espectroscopía de rayos x por dispersión de energía (EDS) mide la energía de los rayos X capturados de la emisión de la muestra, lo que permite obtener mediante un software específico la composición elemental del material.